Hvordan defekter i materialet påvirker effektiviteten til solcellen, er tema i doktoravhandlingen til sivilingeniør Gaute Stokkan (31) fra Søgne. Arbeidet hans ved Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet NTNU kan bidra til å øke forståelsen av silisium som solcellemateriale. Det kan få store positive konsekvenser for forurensnings— og utviklingsspørsmål hvis solceller kan utvikles til å bli en viktig del av energiforsyningen og erstatte fossile brensler og kjernekraft.Stokkan har utviklet en metode og en matematisk modell for å kombinere informasjon om forskjellige defekter: Korngrenser og mikroskopiske feil i krystallgitteret, såkalte dislokasjoner. Dette har han sammenlignet med faktiske målinger av de elektriske egenskapene. Han har funnet at korngrenser kan ha stor betydning, men at det er stor forskjell på forskjellige korngrenser. Dislokasjoner er omtrent like viktige som korngrenser. Metoden er spesielt godt egnet for å studere materialet tidlig i produksjonsprosessen, det vil si før man har laget en solcelle, og materialet bare er en silisiumskive, men metoden kan også brukes for å studere effekten av forskjellige produksjonstrinn. Bakgrunnen for arbeidet har vært den norske industribedriften ScanWafers behov for å utvikle en metode for å karakterisere sitt produkt; bedriften lager silisiumskiver til solceller.Avhandlingen har tittelen «Characterisation of multicrystalline silicon solar cells - Development of characterisation method for the combined effect of dislocations and grain boundaries on the minority carrier lifetime / Karakterisering av multikrystallinske silisiumsolceller - Utvikling av karakteriseringsmetode for kombinert effekt av dislokasjoner og korngrenser på minoritetsladningsbærerlevetiden». Arbeidet er utført ved Institutt for materialteknologi, NTNU, med professor Otto Lohne som veileder. Det er finansiert av Næringslivets Idéfond for NTNU.Gaute Stokkan er sivilingeniør i 1995 fra Fakultet for fysikk og matematikk, Norges tekniske høgskole, og disputerer for graden PhD i dag, fredag 28. mai. Han er ansatt som utviklingsingeniør ved ScanWafer AS, og som forsker ved NTNU.